半導體高低溫測試機

氣體制冷加熱控溫系統

LNEYA代表國際先進的液體溫度控制技術，積極探索和研究元件測試系統，主要用于半導體測試中的溫度測試模擬，具有寬的溫度方向和高溫升降，溫度范圍-92°C~250°C，適用于各種測試要求。LNEYA致力于解決電子元件中的溫度控制滯后問題。超高溫冷卻技術可從300°C直接冷卻。

本產品適用于電子元件的精確溫度控制。在用于惡劣環(huán)境的半導體電子組件制造中，IC封裝組裝、工程和生產測試階段包括電子熱測試和其他溫度（-45°C至+250°C）下的環(huán)境測試模擬。一旦投入實際使用，這些半導體器件和電子產品可以暴露在極端的環(huán)境條件下，以滿足苛刻的軍事和電信可靠性標準。

高精度制冷加熱控溫系統

溫度控制范圍：-85°C~+250°C

溫度控制精度：±0.3°C

應用領域：研究院、航空航天、半導體和電氣工業(yè)、大學、新材料工業(yè)、IC芯片測試、電路板、元器件測試等領域。

氟化液制冷加熱控溫系統

溫度控制范圍：-80°C~+80°C

溫度控制精度：±0.1°C

應用于半導體和電氣工業(yè)、新材料工業(yè)、IC芯片測試、電路板、元器件測試等領域。

高低溫沖擊測試機

溫度控制范圍：-115°C~+225°C

溫度控制精度：±0.5°C

射流式高低溫沖擊測試機給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度。是對產品電性能測試、失效分析、可靠性評估不可或缺的儀器設備。

AI循環(huán)風控制系統

溫度控制范圍：-105°C~+125°C

溫度控制精度：±0.2°C

應用于半導體設備高低溫測試；電子設備高溫、低溫、恒溫測試冷熱源；獨立的制冷循環(huán)風機組；可連續(xù)長時間工作，自動除霜，除霜過程不影響庫溫。

小型氣體制冷機

溫度控制范圍：-110°C~-40°C

應用于將無腐蝕性氣體降溫使用，如干燥壓縮空氣、氮氣、氬氣等常溫氣體通入到LQ系列設備內部，出來的氣體即可達到目標低溫溫度，供給需求測試的元件或者換熱器中。

無錫冠亞恒溫制冷提供7*24的免費咨詢，您只需要提供自己控溫需求，由我們給你提供全面的解決方案！

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